如何用TDR來測(cè)試PCB板的線路阻抗【轉(zhuǎn)發(fā)】

2018-04-10 by:CAE仿真在線來源:互聯(lián)網(wǎng)

“圍毆”阻抗終結(jié)篇

隔壁小王已經(jīng)講了TDR的原理以及如何確定TDR的分辨率。那么,我們要正確測(cè)量PCB板上的線路阻抗,還有哪些需要注意的地方呢?

阻抗測(cè)試的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

之前貼過好多張阻抗測(cè)試的圖片,重新再貼一張給大家看看。阻抗并不是想象中穩(wěn)定的直線,而是波瀾起伏。在前端和后端會(huì)受到探頭或者開路的影響,中間由于生產(chǎn)制程的關(guān)系,也會(huì)有波動(dòng)。

那么,我們?cè)趺磁袛鄿y(cè)試結(jié)果呢?怎么確定生產(chǎn)出來的PCB阻抗是否滿足要求呢?首先來看看IPC規(guī)范,IPC2557A建議的測(cè)量區(qū)間是DUT的30%~70%區(qū)間。

再來看看Intel以及現(xiàn)在主流板廠的測(cè)試習(xí)慣,為了避開Launch區(qū)域以及反射區(qū)域的影響,測(cè)試區(qū)間建議是DUT的50%到70%區(qū)域。

用TDR來測(cè)試線路阻抗,我們首先要了解測(cè)試區(qū)間的要求,才能準(zhǔn)確理解測(cè)量得到的結(jié)果。

探頭對(duì)阻抗測(cè)試結(jié)果的影響

通常來說,TDR測(cè)試的時(shí)候,會(huì)用以下幾種探頭:

其中,板廠通常會(huì)用手持探棒點(diǎn)測(cè),Probe的影響呈現(xiàn)感性。SI實(shí)驗(yàn)室常用SMA來連接測(cè)試線纜,SMA在阻抗測(cè)試中可能呈現(xiàn)容性。兩種探頭對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響如下圖所示:

由于Probe的感性或者容性影響,最終DUT的測(cè)試結(jié)果會(huì)有一點(diǎn)點(diǎn)的偏差。

作為本期阻抗話題的結(jié)尾,以及引導(dǎo)一下后面的話題

轉(zhuǎn)自公眾號(hào):一博科技高速先生作者:作者: 吳均

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